IEEE 759-1984 半导体X射线能谱分析器的试验程序
作者:标准资料网
时间:2024-05-14 04:51:50
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【英文标准名称】:TestproceduresforsemiconductorX-rayenergyspectrometers
【原文标准名称】:半导体X射线能谱分析器的试验程序
【标准号】:IEEE759-1984
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:辐射测量;半导体;辐射计;分光计;测量技术
【英文主题词】:Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Radiationmeters;Semiconductors;Spectrometers;X-rayspectrometer
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:39P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体X射线能谱分析器的试验程序
【标准号】:IEEE759-1984
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:辐射测量;半导体;辐射计;分光计;测量技术
【英文主题词】:Measuringtechniques;Radiationmeasurement;Radiationmeters;Semiconductors;Spectrometers;X-rayspectrometer
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:17_240
【页数】:39P;A4
【正文语种】:英语
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