ASTM C872-1989(2005) 从搪瓷表面析出铅及镉的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-11 21:12:06   浏览:9115   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforLeadandCadmiumReleasefromPorcelainEnamelSurfaces
【原文标准名称】:从搪瓷表面析出铅及镉的试验方法
【标准号】:ASTMC872-1989(2005)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:B08.12
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:表面;镉;释放;铅;瓷器制品;陶瓷;试验
【英文主题词】:
【摘要】:Thedeterminationofleadandcadmiumreleasefromporcelainenamelsurfaceswasformerlyofinterestonlytomanufacturersofporcelainenamelcookwareandsimilarfoodserviceproducts.Foodcontactsurfacesofthesecontainer-typeproductshavebeenevaluatedusingatestproceduresimilartoTestMethodC738.Recently,however,therehasbeenaneedtomeasureleadandcadmiumreleasefromflatorcurvedporcelainenamelsurfacesthatarenotcapableofbeingevaluatedbyatestsimilartoTestMethodC738.1.1Thistestmethodcoverstheprecisedeterminationofleadandcadmiumextractedbyaceticacidfromporcelainenamelsurfaces.1.2ValuesstatedinSIunitsaretoberegardedasthestandard.Inch-poundunitsaregivenforinformationonly.1.3Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:Y26
【国际标准分类号】:81_060_20
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:


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【英文标准名称】:8-bitbackplaneinterface;STEbus
【原文标准名称】:8-bit底板接口;STE总线
【标准号】:IEEE1000-1987
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1987
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国电气电子工程师学会(IEEE)
【起草单位】:IEEE
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:总线系统;8位代码字符集;信息处理;数据传送;数据处理;接口
【英文主题词】:8-bitcodedcharacterset;interfaces(dataprocessing);datatransfer;informationprocessing;bussystems;dataprocessing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L61
【国际标准分类号】:35_200
【页数】:54P;A4
【正文语种】:英语


基本信息
标准名称:光学零件的面形偏差
英文名称:Surface form deviation of optical elements
中标分类: 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 光学仪器综合
ICS分类: 成像技术 >> 光学设备
替代情况:替代GB/T 2831-1981
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-11-15
实施日期:2010-02-01
首发日期:1981-12-28
作废日期:
主管部门:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
起草单位:宁波永新光学股份有限公司、上海光学精密机械研究所、上海理工大学、凤凰光学集团有限公司、江南永新光学有限公司、苏州一光仪器有限公司。
起草人:曾丽珠、徐德衍、章慧贤、冯琼辉、邬子刚
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-02-01
页数:【彩图】28页
计划单号:20061746-T-604
适用范围

本标准规定了光学零部件面形偏差的术语和定义、公差及检验方法。
本标准适用于使用光学样板的等厚干涉方法及干涉仪方法检验光学零部件的面形偏差。

前言

没有内容

目录

前言Ⅰ 1 范围1 2 规范性引用文件1 3 术语和定义1 4 面形偏差的公差规定2 5 标注方法3 6 公差标注示例4 7 检验方法5 附录A (规范性附录) 弧矢偏差的公差与曲率半径公差间的换算8 附录B (资料性附录) 光圈度量9 附录C (资料性附录) 使用干涉仪判读不规则干涉条纹18 附录D (资料性附录) PV 值、rms值及Power值与其他参数的关系22 参考文献23

引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T13323 光学制图(GB/T13323-2009,ISO101101:2006,Opticsandphotonics-Preparationofdrawingsforopticalelementsandsystems-Part1:General,NEQ)

所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 光学仪器综合 成像技术 光学设备